تصویربرداری الکترولومینسانس (EL) یک روش غیرمخرب و دقیق برای شناسایی عیوب داخلی سلول‌های فتوولتائیک است. در این فرآیند، با اعمال جریان مستقیم در جهت بایاس مستقیم (Forward Bias) به پنل، سلول‌های سیلیکونی تابش ضعیفی در محدوده نزدیک به مادون‌قرمز ساطع می‌کنند. این تابش توسط دوربین‌های مخصوص ثبت شده و تصویری از وضعیت داخلی سلول‌ها ارائه می‌دهد. در این تصاویر، بخش‌های سالم و فعال با درخشندگی بیشتر و نواحی دارای ترک، شکستگی مسیرهای رسانا یا بخش‌های غیرفعال به‌صورت نقاط تاریک نمایان می‌شوند. طبق گزارش‌های IEA PVPS، تست EL یکی از کارآمدترین روش‌ها برای تشخیص ترک‌های سلولی (Cell Crack)، میکروترک‌ها، اتصالات ناقص و انواع فرسودگی‌های پنهان است. این آزمون در مراحل مختلفی از جمله کنترل کیفیت در خط تولید، بازرسی پیش از حمل، ارزیابی خسارات احتمالی حین جابه‌جایی و بررسی‌های فنی پیش از تحویل نیروگاه کاربرد گسترده‌ای دارد. اهمیت تست EL به‌ویژه در پروژه‌های بزرگ‌مقیاس دوچندان است، چرا که بسیاری از ترک‌های میکروسکوپی با چشم غیرمسلح قابل تشخیص نیستند اما در اثر تنش‌های حرارتی یا مکانیکی به‌مرور گسترش می‌یابند. با این حال، تحلیل تصاویر EL نیازمند تخصص است، زیرا هر ناحیه تاریک لزوماً به معنای خرابی بحرانی یا افت توان شدید نیست؛ بنابراین توصیه می‌شود این تست در کنار بازرسی‌های ظاهری و تست فلش (Flash Test) انجام شود.
منابع مرجع