پدیده افت عملکرد ناشی از ولتاژ (PID) نوعی کاهش بازدهی در پنل‌های خورشیدی است که در اثر اختلاف پتانسیل بالا میان مدار سلول‌ها و بخش‌های زمین‌شده ماژول رخ می‌دهد. این شرایط منجر به مهاجرت یون‌ها و تغییر در ویژگی‌های الکتریکی سلول شده و در مواردی باعث کاهش توان خروجی، افت مقاومت شنت یا پلاریزاسیون می‌شود. احتمال وقوع PID به عواملی همچون فناوری ساخت سلول، نوع شیشه، مواد کپسوله‌کننده (Encapsulant)، میزان رطوبت، دما، ولتاژ سیستم و نحوه اتصال به زمین بستگی دارد. بررسی‌های مؤسسه Kiwa PVEL نشان می‌دهد که فناوری سلول به‌تنهایی معیار قابل‌اتکایی برای پیش‌بینی مقاومت در برابر PID نیست و حتی ماژول‌هایی با ساختار (BOM) مشابه ممکن است نتایج متفاوتی نشان دهند. طبق استاندارد Scorecard، ماژول‌های برتر در آزمون PID باید در هر دو پلاریته مثبت و منفی، افت توانی کمتر از ۲ درصد داشته باشند. برای کاهش ریسک PID، استفاده از ماژول‌هایی با گواهی معتبر مقاومت در برابر این پدیده، طراحی سیستم مطابق با دستورالعمل‌های سازنده و در صورت تأیید تولیدکنندگان اینورتر و پنل، به‌کارگیری قابلیت‌های Anti-PID یا تجهیزات بازیابی شبانه توصیه می‌شود. همچنین، انتخاب مواد کپسوله‌کننده مناسب و کنترل رطوبت نیز در سطح ماژول نقش مؤثری در پیشگیری از این افت عملکرد ایفا می‌کند.
منابع مرجع